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              百特BeNano用于檢測(cè)電池漿料Zeta電位信息
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              時(shí)間: 2024-03-08 10:31 瀏覽量: 32

              近些年來(lái),新能源產(chǎn)業(yè)發(fā)展迅速。鋰電池作為一種可重復(fù)使用的可充放電電池,在工業(yè)生產(chǎn)和生活中具有非常重要的地位。在鋰電池的生產(chǎn)過(guò)程中,配置電極漿料需要使用NMP(n-甲基吡咯烷酮)作為分散劑。NMP在漿料配料階段作為PVDF的溶劑,參與漿料的分散,形成比較均勻的分散體系,在涂布階段作為漿料的主要載體,輔助漿料均勻的涂敷在基材上。在涂布烘烤階段,NMP有規(guī)律的被揮發(fā),在涂層中造孔,形成分布均勻的多孔微電極結(jié)構(gòu)。


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              電池電極材料在NMP中的穩(wěn)定性非常重要,這涉及到電極的生產(chǎn)質(zhì)量。這個(gè)應(yīng)用中,我們檢測(cè)了一系列分散在NMP中的漿料的Zeta電位


              原理和設(shè)備


              我們采用丹東百特儀器有限公司的BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀進(jìn)行測(cè)試。該儀器使用納米粒度電泳光散射技術(shù)ELS,利用激光照射在樣品溶液或者懸浮液上,檢測(cè)向前角度的散射光信號(hào)。在樣品兩端施加一個(gè)電場(chǎng),樣品中的帶電顆粒在電場(chǎng)力的驅(qū)動(dòng)下進(jìn)行電泳運(yùn)動(dòng)。由于顆粒的電泳運(yùn)動(dòng),樣品的散射光的頻率會(huì)產(chǎn)生一個(gè)頻移,即多普勒頻移。利用數(shù)學(xué)方法處理散射光信號(hào),得到散射光的頻率移動(dòng),進(jìn)而得到顆粒的電泳運(yùn)動(dòng)速度,即電泳遷移率μ。通過(guò)Henry方程,我們把顆粒的電泳遷移率和其Zeta電位ζ聯(lián)系起來(lái):


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              其中ε為介電常數(shù),η為溶劑粘度,f(κα)為Henry函數(shù),κ為德拜半徑倒數(shù),α代表粒徑,κα代表了雙電層厚度和顆粒半徑的比值。


              我們采用丹東百特儀器有限公司的BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀進(jìn)行測(cè)試。儀器使用波長(zhǎng)671 nm,功率50mW激光器作為光源,設(shè)置在12度角的APD檢測(cè)器進(jìn)行散射光信號(hào)采集。采用相位分析光散射技術(shù),可以有效檢測(cè)低電泳遷移率樣品的Zeta電位信息。

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              樣品制備和測(cè)試條件


              一共有四個(gè)電池電極材料,分別分散在NMP溶劑中。由于有機(jī)相NMP的介電常數(shù)較低,所以采用插入式電極進(jìn)行測(cè)試。每個(gè)樣品測(cè)試6次以得到平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差。


              測(cè)試結(jié)果和討論

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              圖1. 1#樣品的多次測(cè)試相圖曲線

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              圖2. 1#樣品的多次測(cè)試Zeta電位分布曲線

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              圖3. 2#樣品的多次測(cè)試相圖曲線

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              圖4. 2#樣品的多次測(cè)試Zeta電位分布曲線

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              圖5. 3#樣品的多次測(cè)試相圖曲線

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              圖6. 3#樣品的多次測(cè)試Zeta電位分布曲線

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              圖7. 4#樣品的多次測(cè)試相圖曲線

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              表1.4個(gè)樣品的Zeta測(cè)試結(jié)果


              通過(guò)圖1-圖8中的樣品原始相位曲線和分布曲線以及表1中的數(shù)據(jù)可以看到,電極材料分散在NMP中進(jìn)行電位測(cè)試,重復(fù)性良好。所有樣品的Zeta電位均為負(fù)值,這說(shuō)明電極材料分散在NMP中攜帶負(fù)電。四個(gè)樣品的Zeta電位幅值都在50mV附近,較高的Zeta電位說(shuō)明樣品的穩(wěn)定性較高。多次測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)差較小說(shuō)明測(cè)試的重復(fù)性良好。