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              百特BETTERSIZE > 產(chǎn)品資訊 > 納米粒度電位儀 BeNano 90 Zeta在納米材料粒徑測試中的應(yīng)用
              納米粒度電位儀 BeNano 90 Zeta在納米材料粒徑測試中的應(yīng)用
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              百特BETTERSIZE

              時間: 2023-04-25 15:21 瀏覽量: 44

              隨著材料合成和加工技術(shù)的不斷完善,一些 新的材料不斷在新能源中得到應(yīng)用,其中納米材料由于其自身的小尺寸效應(yīng)、界面效應(yīng)以及隧道 效應(yīng)等從而在光、電、量子等方面展現(xiàn)出獨特的性能,因而在新能源領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用,比 如太陽能領(lǐng)域的納米導電銀漿、鋰電池領(lǐng)域中的 納米炭黑導電劑以及半導體領(lǐng)域相關(guān)的納米硅漿 等。雖然這些納米材料的顆粒大小和粒度分布十 分重要,然而由于這些顆粒粒徑極小,對光的散射強度極弱,因此給粒度測試帶來了極大的挑戰(zhàn), 尤其是對于經(jīng)典的靜態(tài)激光衍射技術(shù)來說,亞微 米或者納米顆粒測試面臨著一定的風險。而動態(tài) 光散射技術(shù)則是利用顆粒在懸液中的布朗運動, 通過檢測粒子的自由擴散速度,從而利用斯托克 斯 - 愛因斯坦方程快速計算出納米顆粒的粒度分布。

              百特納米激光粒度儀采用雪崩光電二極管探測器,大大提高顆粒檢 測的靈敏度 多可達 4000 個相關(guān)器通道,輕松實現(xiàn)寬范 圍粒徑測試 光源智能控制系統(tǒng),根據(jù)樣品濃度及散射強度自動調(diào)節(jié)光源能量。

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              百特BeNano 90 Zeta 功能和參數(shù)

              粒徑檢測

              粒徑范圍:0.3 nm–15μm 

              小樣品量:3μL

              檢測角度:90°

              Zeta 電位測試

              檢測角度:12° 

              Zeta 范圍:無實際限制

              電泳遷移率范圍:> ±20 μ.cm/V.s 

              電導率范圍:260 mS/cm 

              粒徑范圍:2 nm–110 μm 

              小樣品量:0.75mL

              系統(tǒng)參數(shù)

              溫控范圍:-10℃ ~110℃ ±0.1℃ 

              冷凝控制:干燥空氣或者氮氣 

              激光光源:50mW 高性能固體激光器, 671 nm 

              相關(guān)器:多 4000 通道,1011 動態(tài)線性范圍 檢

              測器:APD (高性能雪崩光電二極管)

              光強控制:0.0001%-100% 手動或者自動

              尺寸:625×400×245mm(22kg)

              檢測參數(shù)

              流體力學尺寸 

              Dh 分布系數(shù) 

              PD.I 擴散系數(shù) 

              D 顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布 

              顆粒體系的 Zeta 電位及其分布


              百特BeNano 90 Zeta 突出特點

              高速測試能力 : 更快的測試速度,所有結(jié)果 可以隨后編輯處理  高性能固體激光器光源 : 高功率、穩(wěn) 定性、長壽命、低維護 智能光源能量調(diào)節(jié) : 根據(jù)信噪比,軟件智能 控制光源能量 光纖檢測系統(tǒng) : 高靈敏度,有效增加信噪比 毛細管極微量粒徑池 :3-5μL 極微量樣品檢 測和更好的大顆粒測試質(zhì)量 智能結(jié)果判斷系統(tǒng) : 智能辨別信號質(zhì)量、消 除隨機事件影響 相位分析光散射 : 準確檢測低電泳遷移率樣 品的 Zeta 電位 可拋棄毛細管電極 : Zeta 電位測試 重復性,避免交叉污染 高穩(wěn)定性設(shè)計 : 結(jié)果重復好,不需日常 光路維護 靈活的動態(tài)計算模式 : 多種計算模型選擇涵 蓋科研和應(yīng)用領(lǐng)域